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제품소개

 UT 시뮬레이션

- Beam computation(Beam propagation simulation): 빔 전파 시뮬레이션

- Inspection Simulation(Beam interaction with flaws or specimens): 결함 또는 시편과 빔 상호 작용

 

사용자는 다양한 범위의 프로브 (일반 , Phased-arrays, EMAT ), 구성 요소, 결함으로 검사 프로세스 ( 펄스 에코, 탠덤 또는 TOFD )를 시뮬레이션이 가능

주요기능
Specimen(시편)

- 사전 정의 된 구성 요소 : 노즐, 버트T 용접 템플릿, 터빈 블레이드 루트 및 그루브, 벽 관통 통과, 엘보우, 패스너가 있는 플레이트  

프로파일이 포함 된 2D CAD 파일 및 프로파일의 평행 이동 또는 회전에 의한 3D 형상 생성 : 프로파일은 동일하거나 이질적 일 수 있음

- CAD import(DXF/IGES)로 정의하거나, CIVA 2D-Sketcher 내부에서 사용자가 직접 그릴 수 있음

- 3D CAD 파일 (IGES/STEP) : 서로 다른 솔리드가 있는 동종 또는 이종의 솔리드, 조립 된 구조

- CIVA 인터페이스에서 이미지를 가져와 시편 정의 및 위치 지정을 도움

- ‘Depressions’ 프로파일은 평면 및 원통형 구성 요소로 쉽게 설명되어 국부적으로 휘어짐을 쉽게 표현

- CIVA에서는 시편 형상을 IGES 형식으로 export 가능

 

  

CAD 형상

   

CAD 형상


Materials(
재질)

고체 또는 유체를 homogeneous 또는 several layers로 설정

  (각 layer 마다 임의의 대칭 및 배향의 등방성 또는 이방성 설정)

- 금속 재료뿐 아니라 섬유 복합 재료 또는 과립 모양 복합재료 (: 콘크리트)

- 입자 크기에 대한 지식에 기초하여 단상 또는 2 상 입자 구조 정의 가능

- 감쇠 법칙및 구조 소음 변수계산이 포함

- 거친 입자 구조의 일반적인 빔 편향 현상 재생

 

   

Homogeneous(동질) 또는 Heterogeneous(이질) 구성 요소상이한 재료 특성

  

연속 가변 이방성 방향 (Ogilvy 모델

 

Probe(프로브)

단일 요소, ​​이중 요소위상 배열, TOFD, Tandem probes 또는 EMAT 단일 요소, 위상 배열

 (EMAT: CIVA ET와의 커플 링)

- Contact 또는 Immersion testing

- 직사각형, 원형 ​​또는 타원형 방사면

- 모양이 지정된 표면 또는 추가된 음향 렌즈가 있는 프로브를 통한 집중된 프로브

- Planar 또는 spherical/bifocal/Fermat focusing surfaces 페르마 초점 표면

- 결정 표면에 의해 방출 된 펄스는 아포디제이션 기능을 통해 균일하거나 가변적 인 것으로 간주 될 수 있다.

- single element or Phased-Array는 데이터베이스(GE, Olympus, Imasonic)

 

  

CIVA에서 사용 가능한 Probe예

 

Phased-Array Setting (위상 배열 설정) 

고리 형, 1 D 선형, 2D 행렬, 2D 섹터 또는 타원형 패턴, EMAT Phased-Array

- 튜브 검사를위한 원형 또는 원형 곡선 배열

- 유연한 위상 배열 프로브  

- 사용자 정의 위상 배열 

 

   

CIVA에서 사용 가능한 Phased-array transducers

 

phase-array에 대한 delay lawssequences of delay laws 계산 

- 요소 전송 및 수신에 대한 공통 또는 독립적 정의

- 전자 스캐닝, 단순 또는 고급(: 송신 또는 수신시 가변 조리개)

- 사울(SAUL : Surface Adapting Ultrasound : 표면 적응형 초음파)  알고리즘  

- 부채꼴 스캔

- 하나 또는 여러 개의 임의의 지점에 초점- 전자 스캐닝

- 비균일 진폭 법칙의 적용(-균질 요소 응답의 영향, 아포다이즈)

- Dynamic delay laws 적용(delay laws은 스캐닝 축을 따라 각 프로브 위치에 대해 독립적으로 계산가능)

 

   

3D display of UT Beam or Matrix Probe

 

 

FLAWS (결함)

교정 결함측면 구멍평평한 바닥 및 반구형 구멍  

- 임의의 크기 및 방향의 평면 결함, 직사각형 또는 반 타원형

- 노즐의 연결 영역에서 결함

- 다각적인 결함, 2D CAD 형상 결함, 가지 치기 결함

- 구형 기공 또는 고체 함유 물(원통형, 구형 또는 타원형)과 같은 볼륨 결함


  

CIVA에서 사용 가능한 다양한 결함 예


적용분야 및 응용사례

  


Beam with multiple shots PA Probe

 

 

 

 

Echoes 예측: S-Scan, A-Scan, POD Curve

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

  


M2M, Olympus Data file을 불러와 UT에서 data분석

(TOFD)

 

 

  


보강재가 굽은 영역에서의 해석 모델

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

  


EMAT Phased-Array Probe

 

 

  


Zone coverage with Ray tracing for a single positionthena full scanning

 

 

 

 

 

 

  


Beam with an immersion transducer: 

Beam Computation

 

 

Continuously variable anisotropy orientation

(Ogilvy model)